常规功能测试
本项测试进行存储卡读写、LCD可视角度、连拍和除尘测试。
存储卡测试采用存储器模式,分别测试XD和CF卡,其中XD卡为OLYMPUS 原厂M型512M,CF卡为金士顿普通版2G,如预料的一样,CF卡速度领先于XD。
基于第二代超晶液晶屏,屏幕的色彩和可视角度都有大幅提高。

xD卡 读写速度测试

CF卡读写速度测试
LCD可视角度测试
|
正面 | |
|
| |
|
俯视 |
侧面 |
|
|
|
连拍测试
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
手持 单次对焦 连续拍摄10张

最后我们使用餐巾纸揉出碎屑模拟灰尘洒入开机状态的e-420,检验其超声波除尘效果。 只做了一次关开机操作,灰尘就无影无踪。
除尘前 除尘后